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FAB纳米图形光学检测设备
CFW820是一款用于FAB产线缺陷监控的光学检测设备,应用在ADI/AEI/Post CMP/OQC等多个工艺阶段,能够帮助客户快速筛选产线上影响产品质量的典型图形缺陷和表面缺陷,确保各种工艺稳定运行。拥有超高的wafer传输兼容性,及5合1检测功能,配置多种光学放大倍率,具备双通道检测能力,能够兼顾灵敏度和吞吐率,搭配灵活易用的recipe 管理功能,基于深度学习的ADC算法,助力客户产线稳定运行。
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FAB纳米图形光学检测设备
CFW920是一款用于FAB前段工艺控制的光学检测设备,应用在ADI/AEI/PostCMP等多个工艺节点,助力客户发现工艺研发阶段和产能提升阶段影响良率的关键图形缺陷,提升良率。CFW920拥有100nm的缺陷灵敏度,双通道检测吞吐率,灵活易用的recipe管理功能,以及基于深度学习的ADC算法,帮助客户产线快速进入HVM阶段。
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被动元件视觉检测设备
六面体外观检测分拣设备通过自研算法可消除人眼检测中因疲劳而产生的错检以及漏检,该系统参数设置简洁,检测规格统一。能够快速准确识别各类精细产品表面各种微小缺陷,采用德国进口超高分辨率相机,配合自主开发的高精度算法,根据客户需求,可实现各种形状的精细材料检测,精确检测产品的多种表面缺陷,精度可达像素级
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引线框架系列视觉检测设备
引线框架视觉检测设备专门为半导体行业芯片支架生产过程中产生的瑕疵检测而设计,应用光学成像、图像处理、深度学习和自动化技术,满足芯片支架生产过程中产生的各类瑕疵检测。 公司专设视觉检测解决方案实验室,具备先进的视觉设备以及专业的视觉团队,检测软件和算法自主设计以解决客户视觉问题为核心,真正做到视觉方案一对一服务。
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应用场景
晶圆、芯片引线框架、磁芯、一体成型电感、贴片二极管、贴片电阻、贴片电容、芯片、被动电子原件等领域的外观瑕疵检测。
磁芯/一体成型电感
异形元件
晶圆
贴片电阻
贴片电容
芯片引线框架
芯片
被动电子元件
GPP晶圆
贴片二极管
为什么选择我们
我们的工厂
工厂规模超过7800㎡
质量
严格控制每一道工序的质量
技术
领先的工业视觉检测技术
服务
全周期服务流程
2015
公司成立于
50+
业务范围涵盖全球
40+
获得国家专利
200+
公司团队
关于我们
  珠海诚锋电子科技有限公司成立于2015年,总部位于珠海,公司在苏州、合肥、上海、北京、深圳、成都、武汉、厦门、绍兴、泰国、新加坡等国内外设立分公司及办事处。专注于半导体光学视觉检测设备的研发、生产和销售,具有完全自主知识产权,为半导体行业提供全方位的制造良率控制的光学检测解决方案。现有FAB前段缺陷监控CFW820系列、FAB前段工艺控制CFW920系列、后段工艺光学检测CFW380系列及红外检测CFW680系列等多款纳米图形晶圆检测设备。
我们的客户
诚锋电子的产品获得业内国内外众多客户的认可与好评,陆续出口至东南亚等半导体行业集中的产业基地。
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