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晶圆制造光学量检测设备系列
CFW820是一款用于FAB产线缺陷监控的光学检测设备,可对标国外竞品Camxxxx的Eagle系列机台,可应用在ADI/AEI/CMP/OQC等多个工艺站,能够帮助客户快速筛选产线上影响产品质量的典型图形缺陷和表面缺陷,确保各种工艺稳定运行。
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掩模版制造光学量检测设备系列
CFY210 是应用在 MaskShop 生产过程检和出货检的AOI设备,诚锋的光罩检测技术可帮助光罩制造商识别光罩particle缺陷和图形缺陷。CFY210 支持多种检测模式,支持SMIF自动上下料和高速运动载台,既可以满足检测稳定性和产能需求,也可以满足超高洁净度要求,从而帮助客户提升良率。
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晶圆封测光学量检测设备系列
CF910-C是一款高端晶粒六面检设备,它最小可以支持0.2mm的晶粒, 上料支持6/8/寸UV膜,下料支持UV膜/华夫盒,采用诚锋自研的明暗场光源和自动对焦成像系统,可实现达1um的图像分辨率,可检测3um的细小裂纹。
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被动元件和引线框架AOI系列
CF320C是一款高端高分辨率的片式线扫检测设备,它采用双8K彩色线扫传感器,搭配诚锋自研专用的明暗场多角度光源,每个传感器可实现一次成像2张不同光路图像,可大幅度提升复杂场景的瑕疵检测能力,适用于大功率/IC等引线框架(冲压/蚀刻)的片式检测。
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应用场景
晶圆制造,晶圆封测,掩模版制造
晶圆
掩膜版
晶粒
引线框架
贴片电容
为什么选择我们
我们的工厂
工厂规模超过7800㎡
质量
严格控制每一道工序的质量
技术
领先的工业视觉检测技术
服务
全周期服务流程
2015
公司成立于
50+
业务范围涵盖全球
40+
获得国家专利
200+
公司团队
关于我们
  珠海诚锋电子科技有限公司成立于2015年,总部位于珠海,公司在苏州、合肥、上海、北京、深圳、成都、武汉、厦门、绍兴、泰国、新加坡等国内外设立分公司及办事处。专注于半导体光学视觉检测设备的研发、生产和销售,具有完全自主知识产权,为半导体行业提供全方位的制造良率控制的光学检测解决方案。现有FAB前段缺陷监控CFW820系列、FAB前段工艺控制CFW920系列、后段工艺光学检测CFW380系列及红外检测CFW680系列等多款纳米图形晶圆检测设备。
我们的客户
诚锋电子的产品获得业内国内外众多客户的认可与好评,陆续出口至东南亚等半导体行业集中的产业基地。
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